Wykaz publikacji wybranego autora

Robert Szczygieł, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6342-0107 orcid iD

ResearcherID: B-5662-2011

Scopus: 6603163212

PBN: 5e70922c878c28a0473911fe

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Characterisation of the UFXC32k hybrid pixel detector for time-resolved pump-probe diffraction experiments at Synchrotron SOLEIL / A. Dawiec, P. MAJ, A. Ciavardini, P. GRYBOŚ, C. Laulhé, C. Menneglier, R. SZCZYGIEŁ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2017 vol. 12 art. no. C03057, s. [1], 1–9. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://iopscience.iop.org/1748-0221/12/03/C03057/pdf/jinst17_03_c03057.pdf [2018-01-19]. — Bibliogr. s. 9, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-03-14. — 18\textsuperscript{th} international workshop on Radiation imaging detectors : Barcelona, Spain, July 03-07, 2016

    orcid iD
  • keywords: hybrid detectors, X-ray diffraction detectors

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/12/03/C03057

3
4
  • Design of versatile ASIC and protocol tester for CBM readout system / W. M. Zabołotny, [et al.], K. KASIŃSKI, [et al.], R. SZCZYGIEŁ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2017 vol. 12 art. no. C02060, s. [1], 1–9. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8–9, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-02-16. — Topical workshop on Electronics for particle physics : 26–30 September 2016, Karlsruhe, Germany. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/12/02/C02060/pdf

    orcid iD
  • keywords: front-end electronics for detector readout, architecture, algorithms, databases, data acquisition circuits, digital electronic circuits, hardware, detector control systems, detector monitoring, experiment monitoring, slow-control systems

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/12/02/C02060

5
  • Development of a four-side buttable X-ray detection module with low dead area using the UFXC32k chips with TSVs / K. KASIŃSKI, P. GRYBOŚ, P. KMON, P. MAJ, R. SZCZYGIEŁ, K. Zoschke // IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2017 vol. 64 no. 8 pt. 2, s. 2433–2440. — Bibliogr. s. 2440, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-06-29. — tekst: https://goo.gl/vRDj1o

    orcid iD
  • keywords: TSV, pixel detectors, X-ray imaging, single photon counting, through-silicon via

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TNS.2017.2721643

6
  • Dynamic scaling of colloidal gel formation at intermediate concentrations / Qingteng Zhang, [et al.], Paweł GRYBOŚ, Piotr KMON, [et al.], Piotr MAJ, [et al.], Robert SZCZYGIEŁ, [et al.] // Physical Review Letters ; ISSN 0031-9007. — 2017 vol. 119 iss. 17, s. 178006-1–178006-6. — Bibliogr. s. 178006-5–178006-6. — Publikacja dostępna online od: 2017-10-25

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevLett.119.178006

7
  • Fabrication of 3D hybrid pixel detector modules based on TSV processing and advanced flip chip assembly of thin read out chip / Kai Zosche, [et al.], Paweł GRYBOŚ, Krzysztof KASIŃSKI, Piotr MAJ, Robert SZCZYGIEŁ, [et al.] // W: ECTC 2017 [Dokument elektroniczny] : IEEE 67th Electronic Components and Technology Conference : 30 May–2 June 2017 Lake Buena Vista, Florida. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2017. — (Proceedings : Electronic Components Conference ; ISSN 2377-5726). — ISBN: 978-1-5090-6315-4 ; e-ISBN: 978-1-5090-4332-3. — S. 917–924. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://goo.gl/zDTYSM [2017-10-07]. — Bibliogr. s. 924, Abstr.

    orcid iD
  • keywords: pixel detectors, 3D integration, TSV integration, flip-chip assembly, bump bonding, wafer level packaging

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/ECTC.2017.278

8
  • GBT based readout in the CBM experiment / J. Lehnert, A. P. Byszuk, D. Emschermann, K. KASIŃSKI, W. F. J. Müller, C. J. Schmidt, R. SZCZYGIEŁ, W. M. Zabolotny // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2017 vol. 12 iss. 2 art. no. C02061, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-02-16. — Topical workshop on Electronics for particle physics : 26–30 September 2016, Karlsruhe, Germany. — tekst: https://goo.gl/ffhv2g

    orcid iD
  • keywords: data acquisition concepts, data acquisition circuits, digital electronic circuits

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/12/02/C02061

9
  • Measurements of Ultra-Fast single photon counting chip with energy window and 75 $\mu$m pixel pitch with Si and CdTe detectors / P. MAJ, P. GRYBOŚ, K. KASIŃSKI, A. KOZIOŁ, A. KRZYŻANOWSKA, P. KMON, R. SZCZYGIEŁ, M. ŻOŁĄDŹ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2017 vol. 12, art. no. C03064, s. [2], 1–6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 5–6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-03-16. — 18\textsuperscript{th} International Workshop on Radiation Imaging Detectors : 3–7 July 2016, Barcelona, Spain. — tekst: https://goo.gl/BA7qqO

    orcid iD
  • keywords: X-ray detectors, XRF, X-ray diffraction detectors, VLSI electronics, pixelated detectors, X-ray fluorescence systems

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/12/03/C03064

10
  • Microstrip and gas electron multiplier readout ASIC for physics experiment at FAIR / Krzysztof KASIŃSKI, Weronika ZUBRZYCKA, Robert SZCZYGIEŁ // W: MIXDES 2017 : Mixed Design of integrated circuits and systems : book of abstracts of 24\textsuperscript{th} international conference : Bydgoszcz, Poland, June 22–24, 2017 / ed. by Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2017. — ISBN do pełnego tekstu.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-8-3635-7812-1. — ISBN: 978-83-63578-11-4. — S. 88. — Abstr.. — Pełny tekst dostępny online: {https://mixdes.org/downloads/MIXDES2017.pdf} [2017-07-20]. — S. 285–289. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 289, Abstr.

    orcid iD
  • keywords: radiation detectors, analogue electronic circuits, VLSI electronics, multi-channel front end electronics for detector readout

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Simulation approach to charge sharing compensation algorithms with experimental cross-check / A. KRZYŻANOWSKA, G. DEPTUCH, P. MAJ, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2017 vol. 12, art. no. C03071, s. [3], 1–9. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8–9, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-03-20. — G. Deptuch - dod. afiliacja: Fermilab PPD/EED, Batavia, U. S. A.. — 18\textsuperscript{th} International Workshop on Radiation Imaging Detectors : 3–7 July 2016, Barcelona, Spain. — tekst: https://goo.gl/WNmJyw

    orcid iD
  • keywords: front-end electronics for detector readout, analogue electronic circuits, digital electronic circuits, solid state, electronic detector readout concepts

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/12/03/C03071

12
  • Single photon counting integrated circuit operating with CdTe pixel detector / Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ // W: MIXDES 2017 : Mixed Design of integrated circuits and systems : book of abstracts of 24\textsuperscript{th} international conference : Bydgoszcz, Poland, June 22–24, 2017 / ed. by Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2017. — ISBN do pełnego tekstu.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-8-3635-7812-1. — ISBN: 978-83-63578-11-4. — S. 95. — Pełny tekst dostępny online: {http://ieeexplore-1ieee-1org-1000047oq0060.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?arnumber=8005224} [2017-07-20]. — S. 324–327. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 326–327, Abstr.

    orcid iD
  • keywords: integrated circuits, X-ray detectors

    cyfrowy identyfikator dokumentu: