Wykaz publikacji wybranego autora

Marcin Goły, dr inż.

adiunkt

Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science
WIMiIP-kmm

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0612-1407 orcid iD

ResearcherID: GBJ-7562-2022

Scopus: 23099781500

PBN: 5e7093d4878c28a0473b16c3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Structural characterization of sintered distaloyae and distaloyhp / SKRZYPEK Stanisław, Bergmark Anders, GOŁY Marcin // W: AMT'2013 : Advanced Materials and Technologies : XX physical metallurgy and materials science conference : 9–12 June 2013, Kudowa Zdrój / Częstochowa University of Technology. Institute of Materials Engineering. — [Częstochowa : University of Technology], [2013]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 64

  • keywords: retained austenite, residual stresses, surface layer, sintered alloys, non destructive X-Ray diffraction methods, quantitative X-Ray diffraction phase analysis, sin2ψ X-Ray method

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Jan Skrzypek

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Structural characterization of surface layers in sintered DistaloyAE and DistaloyHP — Charakterystyka strukturalna spieków ze stopowych proszków DistaloyAE i DistaloyHP / Stanisław J. SKRZYPEK, Anders Bergmark, Marcin GOŁY // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2013 R. 34 nr 4, s. 370–373. — Bibliogr. s. 373, Streszcz., Abstr.

  • słowa kluczowe: spieki stopowe, makroskopowe naprężenia własne, nieniszczące metody dyfrakcyjne, dyfrakcyjna jakościowa i ilościowa analiza fazowa, analiza profilu linii dyfrakcyjnej, metoda sin2ψ, austenit szczątkowy

    keywords: retained austenite, residual stresses, surface layer, sintered alloys, non destructive X-Ray diffraction methods, quantitative X-Ray diffraction phase analysis, sin2ψ X-Ray method

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Jan Skrzypek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: