Wykaz publikacji wybranego autora

Marcin Goły, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0612-1407

ResearcherID: brak

Scopus: 23099781500

PBN: 3927345

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Thickness of polycrystalline copper coating measured by X-ray diffraction / S. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, M. Solay, E. Garcia, M. GOŁY // W: XXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — Opis wg okł.. — S. 06

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: