Wykaz publikacji wybranego autora

Jarosław Kanak, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0871-7095 orcid iD

ResearcherID: N-4668-2015

Scopus: 8852353900

PBN: 5e70922b878c28a047391150

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Influence of different buffers on magnetic dead layer, critical current and thermal stability in magnetic tunnel junctions with perpendicular magnetic anisotropy / M. FRANKOWSKI, A. ŻYWCZAK, M. CZAPKIEWICZ, S. ZIĘTEK, J. KANAK, M. BANASIK, W. POWROŹNIK, W. SKOWROŃSKI, J. CHĘCIŃSKI, J. WRONA, T. STOBIECKI // W: INTERMAG 2015 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Magnetics Conference : May 11–15, 2015, Beijing, China / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2015]. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-4799-7321-7. — S. [1–2], poz. GP-12. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [2]. — J. Wrona – dod. afiliacja: Singulus Technologies, Kahl am Main, Germany

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Influence of Ta buffer layer thickness on magnetic properties and microstructure parameters of CoFeB and MgO layers / J. KANAK, J. WRONA, M. BANASIK, A. ŻYWCZAK, W. POWROŹNIK, M. CZAPKIEWICZ, T. STOBIECKI // W: INTERMAG 2015 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Magnetics Conference : May 11–15, 2015, Beijing, China / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2015]. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-4799-7321-7. — S. [1–2], poz. GP-13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [1]. — J. Wrona – dod. afiliacja: Singulus Technologies, Kahl am Main, Germany

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Magnetic properties and magnetization dynamics of magnetic tunnel junctions bottom electrode with different buffer layers / J. WRONA, J. KANAK, M. J. BANASIK, S. ZIĘTEK, W. SKOWROŃSKI, T. STOBIECKI // W: INTERMAG 2015 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Magnetics Conference : May 11–15, 2015, Beijing, China / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2015]. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-4799-7321-7. — S. [1–2], poz. HP-10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [1]. — J. Wrona – dod. afiliacja: Singulus Technologies, Kahl am Main, Germany

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
  • Study of structure and antireflective properties of $LaF_{3}/HfO_{2}/SiO_{2}$ and $LaF_{3}/HfO_{2}/MgF_{2}$ trilayers for UV applications / K. MARSZAŁEK, J. Jaglarz, B. Sahraoui, P. Winkowski, J. KANAK // Optical Materials ; ISSN 0925-3467. — 2015 vol. 39, s. 1–7. — Bibliogr. s. 7, Abstr.. — W bazie WoS brak autorów: P. Winkowski, J. Kanak. — tekst: https://goo.gl/nWn8cj

  • keywords: antireflective coatings, LaF3/HfO2/SiO2, LaF3/HfO2/MgF2, optical measurements

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.optimat.2014.09.041