Wykaz publikacji wybranego autora

Jarosław Kanak, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0871-7095 orcid iD

ResearcherID: N-4668-2015

Scopus: 8852353900

PBN: 5e70922b878c28a047391150

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Conductance study of magnetic tunnel junctions with an ultrathin MgO barrier / A. ZALESKI, J. WRONA, M. CZAPKIEWICZ, W. SKOWROŃSKI, J. KANAK, T. STOBIECKI // W: Physics of Magnetism 2011 (PM'11) : the European conference : [June 27–July 1, 2011, Poznań, Poland] : abstracts / eds. R. Micnas, [et al.] ; Adam Mickiewicz University. Faculty of Physics, Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics. — Poznań : Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics, 2011. — ISBN10: 83-922407-6-6. — S. 120

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Hardness and texture of Cu/Ni multilayers differing in Ni sublayer thicknessTwardość i tekstura wielowarstw Cu/Ni zróżnicowanych grubością podwarstwy Ni / Edyta Kulej, Barbara Kucharska, Jarosław KANAK // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2011 R. 32 nr 4, s. 514–516. — Bibliogr. s. 516, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Magnetic tunnel junctions with synthetic antiferromagnet free layer / A. ZALESKI, J. KANAK, J. WRONA, M. CZAPKIEWICZ, W. SKOWROŃSKI, T. STOBIECKI // W: NANOSMAT [Dokument elektroniczny] : 6th NANOSMAT conference : Kraków, Poland, 17–20th October 2011 : abstracts book / eds. N. Ali, S. Mitura. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : NANOSMAT], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. 258. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 258

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Model of conductance in magnetic tunnel junctions with ultrathin MgO barrier / A. ZALESKI, J. WRONA, M. CZAPKIEWICZ, W. SKOWROŃSKI, J. KANAK, T. STOBIECKI // W: Workshop on Novel trends in optics and magnetism of nanostructures : 02–07 July 2011, Augustów, Poland : book of abstracts. — [Poland : s. n.], [2011]. — S. 60. — Bibliogr. s. 60

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure

    cyfrowy identyfikator dokumentu: