In situ x-ray diffraction study of $CoFeB/MgO/CoFeB$ based P-SV and EB-SV magnetic tunnel junctions / J. KANAK, T. STOBIECKI, P. WIŚNIOWSKI, A. ZALESKI, W. POWROŹNIK, J. Cao, S. Cardoso, P. Freitas // W: ISAMMA 2010 : the 2\textsuperscript{nd} international symposium on Advanced Magnetic Materials and Applications : July 12–16, 2010, Sendai, Japan : abstracts. — [Japan : s. n.], [2010]. — S. 29. — Bibliogr. s. 29

Magnetyczne nano-złącza tunelowe — [Nanometric scale magnetic tunnel junctions] / T. STOBIECKI, W. SKOWROŃSKI, J. WRONA, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK // W: NANO 2010 : IV krajowa konferencja nanotechnologii : Poznań, 28.06–02.07 2010 : program i streszczenia / Politechnika Poznańska. — [Poznań : PP], [2010]. — S. 95

Międzywarstwowe sprzężenie wymienne w magnetycznych złączach tunelowych ze zmienną grubością warstwy Ru w syntetycznej warstwie swobodnej — [Interlayer exchange coupling in magnetic tunnel junctions with Ru wedge in synthetic free layer] / A. ZALESKI, W. SKOWROŃSKI, J. WRONA, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, T. STOBIECKI // W: NANO 2010 : IV krajowa konferencja nanotechnologii : Poznań, 28.06–02.07 2010 : program i streszczenia / Politechnika Poznańska. — [Poznań : PP], [2010]. — S. 230

Spin transfer torque in magnetic tunnel junction for spintronics applications / T. STOBIECKI, W. SKOWROŃSKI, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, J. WRONA, P. WIŚNIOWSKI, Z. ZALESKI // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10\textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34\textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 7. — Toż W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th Electron Technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic, [et al.]. — Wrocław : Wrocław University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — ISBN 978-83-917701-9-1

Wpływ szorstkości interfejsów na strukturę domenową w magnetycznych układach wielowarstwowych z anizotropią prostopadłą — [Influence of the interface roughness on domain structures in magnetic multilayers with perpendicular anisotropy] / J. KANAK, T. STOBIECKI, M. CZAPKIEWICZ // W: STM/AFM 2010 : badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań : VI seminarium : Zakopane, 1–5 grudnia 2010 : streszczenia / Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów NANOSAM, Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego. — Kraków : NANOSAM, IF UJ, 2010. — Opis częśc. wg okł.. — S. 50

X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of multilayer a-Si:H/$\mu$c-Si:H system / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10\textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34\textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 147. — Bibliogr. s. 147. — Pełny tekst W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th electron technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic [et al.]. — Wrocław : University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. 1–4. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 4, Abstr. — ISBN 978-83-917701-9-1

X-ray reflectivity investigations of Ga$^{+}$ ion irradiated Pt/Co/Pt films / J. KANAK, T. STOBIECKI, W. POWROŹNIK, P. Mazalski, I. Sveklo, A. Maziewski, M. O. Liedke, J. Fassbender, A. Wawro, L. T. Baczewski // W: JEMS 2010 : Joint European Magnetic Symposia : 23–28 August 2010, Kraków, Poland : programme, abstracts / Jagiellonian University. — [Kraków : s. n.], [2010]. — S. 64, abstr. no. 85