Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Kozieł, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-1109-9010 orcid iD

ResearcherID: N-2096-2014

Scopus: 15057811600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0ca

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2

  • Microstructural alterations of selected materials upon interaction with focused Ga+ ion beam / M. GAJEWSKA, G. CIOS, M. WĄTROBA, W. BEDNARCZYK, R. DZIURKA, T. KOZIEŁ, P. BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — s. 87. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: microstructure, steel, FIB, metallic glass, Ga ions

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Bała, Rafał Dziurka, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Wiktor Bednarczyk, Maria Wątroba

    cyfrowy identyfikator dokumentu: