Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Bała, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-9896-6350 orcid iD

ResearcherID: C-6232-2015

Scopus: 35784026400

PBN: 5e70920b878c28a04738f091

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • A novel high-strength $Zn-3Ag-0.5Mg$ alloy processed by hot extrusion, cold rolling, or high-pressure torsion / Maria WĄTROBA, Wiktor BEDNARCZYK, Jakub KAWAŁKO, Sebastian LECH, Krzysztof Wieczerzak, Terence G. Langdon, Piotr BAŁA // Metallurgical and Materials Transactions. A, Physical Metallurgy and Materials ; ISSN 1073-5623. — 2020 vol. 51 iss. 7, s. 3335–3348. — Bibliogr. s. 3347–3348. — Publikacja dostępna online od: 2020-05-09. — K. Wieczerzak - afiliacja: Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures, Empa, Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology; P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN AGH. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s11661-020-05797-y.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11661-020-05797-y

2
3
4
5
6
7
8
9
  • Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

    orcid iD
  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816