doktorant
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Stereologia mikrostruktury jednofazowej z wykorzystaniem możliwości pomiarowych SigmaScan® Pro — One-phase microstructure's stereology with SigmaScan® Pro measurement posibilities / Piotr MATUSIEWICZ, Monika WĘGRZYN, Andrzej CZARSKI // W: XXXI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 7–10. X. 2003 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Metalurgii i Inżynierii Materiałowej. — [Kraków : AGH], [2003]. — ISBN10: 8391753913. — S. 143–146. — Bibliogr. s. 146, Streszcz.
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Czarski, Piotr Matusiewicz
cyfrowy identyfikator dokumentu: