Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Szeleźniak, mgr inż.

doktorant

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 13, z ogólnej liczby 13 publikacji Autora


1
  • CMOS SOI technology characterization and verification of device models for analogue design : abstract / Mirosław Grodner, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELŹNIAK, Daniel Tomaszewski // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 259–260. — Bibliogr. s. 260

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • C-V, I-V and C-T measurement and data analysis system in the labview environment / M. SZELEŹNIAK, G. DEPTUCH, W. Dulinski, W. Jung, W. KUCEWICZ // W: MIXDES 2004 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 11\textsuperscript{th} international conference : Szczecin, Poland 24–26 June 2004 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2004. — ISBN10: 8391928977. — S. 468–475. — Bibliogr. s. 475, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Design, fabrication and characterization of SOI pixel detectors of ionizing radiation / D. Tomaszewski [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, [et al.], H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK // W: Science and technology of semiconductor on Insulator structures devices operating in a harsh environment [Dokument elektroniczny] : proceedings of the NATO Advanced Research Workshop : Kiev, Ukraine, 26–30 April 2004 / eds. Flandre Denis [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Netherlands : Kluwer Academic Publishers, 2005. — (NATO Science Series. Series II: Mathematics, Physics and Chemistry ; ISSN 1568-2609 ; vol. 185). — ISBN10: 1-4020-3011-8. — S. 291–296. — Bibliogr. ekran 296, Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — tekst: https://goo.gl/QJtj2n

  • keywords: CMOS, SOI, pixel detectors, ionizing radiation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Monolithic active pixel detector in SOI technology / Krzysztof Domański, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Stanisław KUTA, Witold MACHOWSKI, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELEŹNIAK, Daniel Tomaszewski // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 245–246. — Bibliogr. s. 246, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
7
  • Monolithic active pixel detector realized in silicon on insulator technology / Krzysztof Domanski [et al.], Michał KOZIEŁ, Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Stanisław KUTA, Witold MACHOWSKI, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELEŹNIAK, Daniel Tomaszewski // W: VCI : 10\textsuperscript{th} Vienna Conference on Instrumentation : 16.–21. 02. 2004 : abstracts. — [Austria. : s. n.], [2004]. — S. 40, [8], T4.8

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
  • Preliminary measurements of the monolithic active pixel detector realized in the SOI technology / H. NIEMIEC, M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, S. KUTA, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK [et al.] // W: MIXDES 2004 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 11\textsuperscript{th} international conference : Szczecin, Poland 24–26 June 2004 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2004. — ISBN10: 8391928977. — S. 234–237. — Bibliogr. s. 237, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Rozwój technologii SOI do realizacji monolitycznego detektora mozaikowegoTechnology development for silicon monolithic pixel sensor in SOI technology / Halina NIEMIEC, Tomasz Klatka, Michał KOZIEŁ, Wojciech KUCEWICZ, Stanisław KUTA, Witold MACHOWSKI, Maria SAPOR, Michał SZELEŹNIAK [et al.] // Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki ; ISSN 0138-0826. — 2003 vol. 23 nr 10, s. 19–24. — Bibliogr. s. 24, Streszcz., Summ.

  • słowa kluczowe: krzemowe detektory mozaikowe, technologia SOI

    keywords: silicon on insulator technology, silicon pixel detectors

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
12
  • Technology development for silicon monolithic pixel sensor in SOI technology / H. NIEMIEC, [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, S. KUTA, W. MACHOWSKI, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK, [et al.] // W: MIXDES 2003 : Mixed Design of integrated circuits and systems : proceedings of the 10\textsuperscript{th} international conference : Łódź, Poland 26–28 June 2003 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics and Computer Science, 2003. — ISBN10: 8372830959. — S. 508–511. — Bibliogr. s. 511, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • The SUCIMA project : a status report on high granularity dosimetry and proton beam monitoring / M. Caccia [et al.], G. Deptuch [et al.], M. JASTRZĄB, L. Jungermann, T. Klatka, A. Kociubinski, M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, K. Kucharski, S. KUTA, J. Marczewski, A. Mozzanica, H. NIEMIEC, R. Novario [et al.], M. SAPOR, H. Schweickert, B. Sowicki, M. SZELEŹNIAK, D. Tomaszewski, A. Zalewska // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2006 vol. 560 iss. 1, s. 153–157. — Bibliogr. s. 157, Abstr.. — G. Deptuch – afiliacja: Université Luis Pasteur. — VERTEX 2004 : 13th International Workshop on Vertex Detectors : Italy, 13–18 September 2004. — tekst: https://goo.gl/84AuYr

  • keywords: pixel, beam monitoring, microstrip, dosimetry, beam profilometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2005.11.219