Wykaz publikacji wybranego autora

Jakub Haberko, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1002-7691 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 23134828000

PBN: 5e7092b7878c28a04739b56b

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2017]
  • TytułCore-shell polymer microspheres – depth profiling using cluster ions and XPS : [abstract]
    AutorzyJakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Monika Gosecka, Joanna Raczkowska, Kamil Awsiuk, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski, Teresa Basinska
    ŹródłoSIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID RM-Thu2-2-4
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułPhotonic hyperuniform networks obtained by silicon double inversion of polymer templates
    AutorzyNicolas Muller, Jakub HABERKO, Catharine Marichy, Frank Scheffold
    ŹródłoOptica [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2017 vol. 4 no. 3, s. 361–366
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1364/OPTICA.4.000361

4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułPolarization-independent asymmetric light transmission in all-dielectric photonic structures
    AutorzyŁukasz Zinkiewicz, Michał Nawrot, Jakub HABERKO, Piotr Wasylczyk
    ŹródłoOptical Materials. — 2017 vol. 73, s. 484–488. — tekst: https://goo.gl/nUCy8W
  • keywords: photonic crystals, diffraction grating, asymmetric transmission

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.optmat.2017.08.046

5
  • [referat, 2017]
  • TytułSurface topography of polymers induced by argon cluster ion beam sputtering : [abstract]
    AutorzyAndrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Jakub HABERKO, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoSIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID FN1-Mon4-2-3
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: