Wykaz publikacji wybranego autora

Jakub Haberko, dr hab. inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1002-7691

ResearcherID: brak

Scopus: 23134828000

PBN: 1228081

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • [referat, 2015]
  • TytułChemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation
    AutorzyAndrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 95
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2015]
  • TytułHeterogeneous materials based on aperiodic structures for bone tissue substitutes
    AutorzyMaciej ŚNIECHOWSKI, Jakub KAMIŃSKI, Sebastian WROŃSKI, Jakub HABERKO, Jacek TARASIUK
    ŹródłoICCB 2015 [Dokument elektroniczny] : VI International Conference on Computational Bioengineering : September 14-16, 2015, Barcelona, Spain / ed. Miguel Cerrolaza, Sergio Oller. — [Spain : s. n.], [2015]. — S. [1–10]
  • keywords: aperiodic structures, heterogeneous materials, bone tissue substitutes

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • [referat, 2015]
  • TytułPhotonic band gaps in disordered materials: stealthy hyperuniformity versus local ordering : [abstract]
    AutorzyLuis S. Froufe-Pérez, Pablo F. Damasceno, Michael Engel, Nicolas Muller, Jakub HABERKO, Sharon C. Glotzer, Frank Scheffold
    ŹródłoPIERS 2015 [Dokument elektroniczny] : Progress In Electromagnetics Research Symposium : Prague, Czech Republic, 06–09 July, 2015. — [Czech Republic : s. n.], [2015]. — S. 1749–1750
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2015]
  • TytułXPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures
    AutorzyMateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 93–94
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2015]
  • TytułXPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam
    AutorzyJakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 94
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: