Wykaz publikacji wybranego autora

Jakub Haberko, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1002-7691

ResearcherID: brak

Scopus: 23134828000

PBN: 1228081

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2014]
  • TytułIsotropic photonic bandgap materials derived from hyperuniform point patterns
    AutorzyJakub HABERKO, Nicolas Muller, Catherine Marichy, Frank Scheffold
    Źródło2014 MRS fall meeting & exhibit [Dokument elektroniczny] : November 30 – December 5, 2014, Boston. — [USA : s. n.], [2014]. — Ekran 1
2
3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2014]
  • TytułSilicon hyperuniform disordered photonic materials with a pronounced gap in the shortwave infrared
    AutorzyNicolas Muller, Jakub HABERKO, Catherine Marichy, Frank Scheffold
    ŹródłoAdvanced Optical Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2014 vol. 2 iss. 2, s. 115–119
4
  • [referat, 2014]
  • TytułStability of poly(3-alkilotiophene) under argon gas cluster bombardment
    AutorzyAndrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Jakub HABERKO, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoSIMS Europe 2014 [Dokument elektroniczny] : 9textsuperscript{th} european workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry : Münster, Germany, September 7–9, 2014 : final program and book of abstracts / Westfälische Wilhelms-Universität Münster. — [Germany : s. n.], [2014]. — S. 112
5
6
  • [referat, 2014]
  • TytułTowards efficient organic photovoltaic cells: enhancement of light trapping with breath figure patterns
    AutorzyMonika Josiek, Jakub HABERKO, Mateusz MARZEC, Rickard Hansson, Leif K. E. Ericsson, Andrzej BERNASIK, Ellen Moons, Andrzej Budkowski, Jakub Rysz
    ŹródłoSPIE optics + photonics [Dokument elektroniczny] : optical engineering + applications ; nanoscience + engineering ; organic photonics + electronics ; solar energy + technology : San Diego, USA 17–21 August 2014. — [USA : SPIE], [2014]. — S. 323
7
  • [referat, 2014]
  • TytułXPS depth profiling of organic semiconductors with an argon gas cluster ion beam
    AutorzyJakub HABERKO, Mateusz MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY
    Źródło2014 MRS fall meeting & exhibit [Dokument elektroniczny] : November 30 – December 5, 2014, Boston. — [USA : s. n.], [2014]. — Ekran 1