Wykaz publikacji wybranego autora

Jakub Haberko, dr hab. inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1002-7691

ResearcherID: brak

Scopus: 23134828000

PBN: 1228081

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • Core-shell polymer microspheres – depth profiling using cluster ions and XPS : [abstract] / Jakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Monika Gosecka, Joanna Raczkowska, Kamil Awsiuk, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski, Teresa Basinska // W: SIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID RM-Thu2-2-4. — Tryb dostępu: http://sims.confer.uj.edu.pl/boa_oral.php?id=257 [2017-09-28]. — Bibliogr. s. [1]. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMiN AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Surface topography of polymers induced by argon cluster ion beam sputtering : [abstract] / Andrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Jakub HABERKO, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // W: SIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID FN1-Mon4-2-3. — Tryb dostępu: http://sims.confer.uj.edu.pl/boa_oral.php?id=110 [2017-09-28]. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMiN AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: