Wykaz publikacji wybranego autora

Radosław Chmielowski, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • [referat, 2008]
  • TytułMicrostructure of ${Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ thin films and ${Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_{3}O_{12}/Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ bilayers
    AutorzyR. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux
    ŹródłoEMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — S. 347–348
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • [referat, 2002]
  • TytułStructural analyses of the thin films $CeO_{2}$ doping Cu
    AutorzyM. KLIMCZAK, A. KOPIA, R. CHMIELOWSKI, J. KUSIŃSKI, I. SULIGA
    ŹródłoXI International conference on Electron microscopy of solids : Krynica, Poland, 19–23 May 2002 : abstracts / org.: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences, Microscopy Section of Committee on Materials Science of Polish Academy of Sciences, Polish Materials Society. — [Poland : PAS], [2002]. — S. 123
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat w czasopiśmie, 2006]
  • TytułStructural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films deposited by laser ablation
    AutorzyR. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2006 vol. 51 iss. 1 spec. iss., s. 83–86
  • keywords: pulsed laser deposition, strontium ruthenate, FeRAM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2005]
  • TytułStructural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films elaborated by laser ablation technique
    AutorzyR. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul
    ŹródłomicroCEM : workshop on “Progress in microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Krakow : Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2005. — S. 41, P 11
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [referat, 2006]
  • TytułTEM microstructure investigation of ferroelectric and conductive oxide thin films obtained by pulsed laser deposition technique
    AutorzyR. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux
    ŹródłoIMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1753
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [artykuł w czasopiśmie, 2003]
  • TytułThe influence of copper on microstructure and catalytic properties of ${CeO_{2}}$ thin films deposited by pulsed laser deposition
    AutorzyM. KLIMCZAK-CHMIELOWSKA, R. CHMIELOWSKI, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI, Ch. Leroux, S. Villain, S. Saiztek, J. R. Gavarri
    ŹródłoHigh Temperature Material Processes. — 2003 vol. 7 iss. 3, s. 333–342
  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, nano materials, gas sensors, cerium dioxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1615/HighTempMatProc.v7.i3.70

9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2004]
  • TytułWybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałów
    AutorzyJan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Radosław CHMIELOWSKI
    ŹródłoHutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa. — 2004 R. 71 nr 3, s. 120–128
  • słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja

    keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu

    cyfrowy identyfikator dokumentu: