Wykaz publikacji wybranego autora

Magdalena Klimczak-Chmielowska, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem1028
200611
2004514
200322
2002211
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem1019
200611
2004514
200322
200222
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem1037
200611
2004523
200322
2002211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem1055
200611
2004523
200322
200222
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem1010
200611
200455
200322
200222
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1064
200611
2004541
200322
200222



1
2
3
  • [referat, 2004]
  • TytułNano-powders and thin films of Cu-doped $CeO_{2}$ for gas sensors
    AutorzyCh. Leroux, [et al.], M. KLIMCZAK, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI
    ŹródłoEMC 2004 : 13textsuperscript{th} European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 95–96
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2006]
  • TytułStructural analyses of $Nd-doped$ $CeO_{2}$ thin films deposited by pulsed laser deposition
    AutorzyA. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux, J. P. Dallas, J. R. Gavarri, J. KUSIŃSKI
    ŹródłoJournal of Microscopy. — 2006 vol. 224 pt. 1, s. 49–51. — tekst: https://goo.gl/mHjSLg
  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, gas sensor, cerium dioxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/j.1365-2818.2006.01661.x

6
  • [referat, 2002]
  • TytułStructural analyses of the thin films $CeO_{2}$ doping Cu
    AutorzyM. KLIMCZAK, A. KOPIA, R. CHMIELOWSKI, J. KUSIŃSKI, I. SULIGA
    ŹródłoXI International conference on Electron microscopy of solids : Krynica, Poland, 19–23 May 2002 : abstracts / org.: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences, Microscopy Section of Committee on Materials Science of Polish Academy of Sciences, Polish Materials Society. — [Poland : PAS], [2002]. — S. 123
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
  • [referat w czasopiśmie, 2004]
  • TytułTexture modifications in copper doped ceria thin films by pulsed laser deposition technique
    AutorzyMagdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Jan KUSIŃSKI, Christine Leroux, Jean Raymond Gavarri
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2004 R. 25 nr 3, s. 561–563
  • słowa kluczowe: miedź, tekstura, ablacja laserowa, warstwa cienka

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2003]
  • TytułThe influence of copper on microstructure and catalytic properties of ${CeO_{2}}$ thin films deposited by pulsed laser deposition
    AutorzyM. KLIMCZAK-CHMIELOWSKA, R. CHMIELOWSKI, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI, Ch. Leroux, S. Villain, S. Saiztek, J. R. Gavarri
    ŹródłoHigh Temperature Material Processes. — 2003 vol. 7 iss. 3, s. 333–342
  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, nanomaterials, gas sensors, cerium dioxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1615/HighTempMatProc.v7.i3.70

10
  • [artykuł w czasopiśmie, 2004]
  • TytułWybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałów
    AutorzyJan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Radosław CHMIELOWSKI
    ŹródłoHutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa. — 2004 R. 71 nr 3, s. 120–128
  • słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja

    keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu

    cyfrowy identyfikator dokumentu: