doktorant
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja
keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Kusiński, Agnieszka Kopia, Kazimierz Kowalski, Radosław Chmielowski
cyfrowy identyfikator dokumentu: