Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Wroński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7616-5897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 22635942600

PBN: 5e709208878c28a04738eec5

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Corrections in constant incidence angle X-ray technique used for stress measurement / K. WIERZBANOWSKI, S. WROŃSKI, A. BACZMAŃSKI, C. Braham, A. Lodini // W: SOTAMA 2007 : 2\textsuperscript{nd} symposium on Texture and microstructure analysis : Kraków, 26–28 September, 2007 : book of abstracts ; lectures and posters. — [Kraków : s. n.], [2007]. — S. 35–36, P-42

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: