Krzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii — [Silicon strip detector of X-ray radiation and its applications in diffraction measurements] / Andrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK // W: XLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002 = 44\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18. — Bibliogr. s. 30

System obrazowania cyfrowego dla potrzeb mammografii wykorzystującej promieniowanie X o dwóch różnych energiach — [Dual-energy X-ray digital imaging system for mammography] / Krzysztof ŚWIENTEK, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Piotr WIĄCEK, Ana Ester Cabal Rodrigez, C. Sanchez, M. Gambaccini, J. L. Gaitan, F. Prino, L. Ramello // W: Technika jądrowa w przemyśle, medycynie, rolnictwie i ochronie środowiska : krajowe sympozjum : Kraków, 7–9 września 2005 / red. Łukasz Chmura [et al.]. — Kraków : Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH, 2005. — ISBN10: 83-921064-2-3. — S. 327–332. — Bibliogr. s. 332

Testy systemu do obrazowania cyfrowego umożliwiającego pracę z promieniowaniem X o dużym natężeniu i selekcję energetyczną fotonów — Tests of system for digital imaging with the X-ray of high intensity and selection of photon energy / Paweł GRYBOŚ, Piotr MAJ, Robert SZCZYGIEŁ, Krzysztof ŚWIENTEK, Luciano Ramello, Ana Ester Cabal Rodriguez // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 vol. 53 nr 9bis, s. 150–152. — Bibliogr. s. 152, Streszcz., Abstr.. — Kongres Metrologii „Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju” : Kraków 9–13 września 2007, T. 1 / SIiTMP SM, PSPAiR POLSPAR. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2007 + CD-ROM. — Na okł. dodatkowo: 50 Lat Katedry Metrologii AGH, 55 Lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki