FPGA implemented temperature controller for mid-IR methane optical detector / Zbigniew St. SOBKÓW, Artur RYDOSZ // Przegląd Elektrotechniczny = Electrical Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich ; ISSN 0033-2097. — 2011 R. 87 nr 6, s. 227–229. — Bibliogr. s. 229, Streszcz., Abstr.

Implementation of analyzes the optoelectronic parameters at electrochromic systems using programming environment – LabVIEW / Agnieszka STAŃCO, Zbigniew St. SOBKÓW, Barbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI // W: Microelectronic materials and technologies, Vol. 2 / monograph ed. Zbigniew Suszyński. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. — (Monografie / Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie ; ISSN 0239-7129 ; 232). — S. 11–20. — Bibliogr. s. 20

Ionic conductors for electrochromic devices / Agnieszka STAŃCO, Konstanty MARSZAŁEK, Barbara SWATOWSKA, Zbigniew SOBKÓW // W: Microelectronic materials and technologies, Vol. 2 / monograph ed. Zbigniew Suszyński. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. — (Monografie / Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie ; ISSN 0239-7129 ; 232). — S. 192–202. — Bibliogr. s. 200–202

Sterownik procesu rozpylania pracujący w środowisku LabVIEW — LabVIEW controller for sputtering deposition system / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew St. SOBKÓW, Józef CIOTUŃ // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2009 R. 50 nr 1, s. 102–104. — Bibliogr. s. 104, Streszcz., Summ.. — IV Kongres Polskiego Towarzystwa Próżniowego oraz VIII Krajowa Konferencja Techniki Próżni : Janów Lubelski, 21–24 września 2008 r. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2009

System do testowania wyświetlaczy LCD pracujący w środowisku LabVIEW — LabVIEW environment working system for LCD displays testing / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew SOBKÓW, Tadeusz PISARKIEWICZ // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2009 vol. 50 nr 9, s. 85–86. — Bibliogr. s. 86, Streszcz., Summ.

System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych — The measuring system to investigation of profiles of thin-layer arrangements the electrochromic / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew SOBKÓW, Tomasz STAPIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 8, s. 68–69. — Bibliogr. s. 69, Streszcz., Summ.. — IX Konferencja Techniki Próżni i Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials : Cedzyna, 6–9 czerwca 2011

The research stand for investigation the dynamic changes of parameters in electrochromic devices / Agnieszka STAŃCO, Zbigniew St. SOBKÓW, Łukasz WIĘCKOWSKI // W: Microelectronic materials and technologies, Vol. 2 / monograph ed. Zbigniew Suszyński. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. — (Monografie / Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie ; ISSN 0239-7129 ; 232). — S. 361–369. — Bibliogr. s. 369

Vision based system for position recognition of small mobile robots / Łukasz WIĘCKOWSKI, Zbigniew St. SOBKÓW, Maciej GARBACZ, Mieczysław ZACZYK // Image Processing & Communications : an International Journal ; ISSN 1425-140X. — 2012 vol. 17 no. 4, s. 313–318. — Bibliogr. s. 317–318, Abstr.