Wykaz publikacji wybranego autora

Jacek Słowik, mgr inż.

doktorant

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem1394
200511
2004211
200311
2002431
2001321
200022
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem13211
200511
200422
200311
2002413
200133
200022
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem1367
200511
2004211
200311
2002422
2001312
2000211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem1349
200511
2004211
200311
2002413
2001312
200022
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem1313
200511
200422
200311
200244
200133
200022
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1349
200511
2004211
200311
2002413
2001312
200022



1
  • [referat, 2002]
  • Tytuł128 [Hundred twenty eight]-channel silicon strip detector implemented in a powder diffractometer
    AutorzyA. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, J. SŁOWIK
    ŹródłoEPDIC 8 : 8th [ieghth] European Powder Diffraction Conference : Uppsala, Sweden 23–26 May 2002 : collected abstracts / Uppsala Iniversitet. — [Sweden : UU], [2002]. — S. 97
2
3
  • [referat, 2000]
  • TytułEquatorial aberrations in a X-ray powder diffractometer with the linear position-sensitive detector
    AutorzyJ. SŁOWIK, A. ZIĘBA
    ŹródłoEPDIC 7 : 7textsuperscript{th} European Powder Diffraction Conference : Barcelona, 20–23 May 2000. — [Barcelona : s. n.], [2000]. — S. 93
4
5
  • [referat, 2002]
  • TytułKrzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii
    AutorzyAndrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK
    ŹródłoXLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18
6
  • [referat, 2003]
  • TytułKształt piku dyfrakcyjnego uzyskanego przy pomocy liniowego detektora pozycjoczułego przy skokowym i ciągłym przesuwie ramienia dyfraktometru : [abstrakt]
    AutorzyKlaudiusz SŁOWIKOWSKI, Jacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA
    ŹródłoXLV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 26–27 czerwca 2003. — [Polska : s. n.], [2003]. — S. 212, P-131
7
  • [referat, 2001]
  • TytułPrototype silicon position-sensitive detector working with 0-20 diffractometer
    AutorzyA. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, J. SŁOWIK, P. WIĄCEK
    ŹródłoECM 20 : 20textsuperscript{th} European crystallographic meeting : Crystallography in natural sciences and technology : Kraków, August 25–31 2001 : book of abstracts / eds. K. Stadnicka, W. Nitek. — [Kraków : EJB Publisher], [2001]. — S. 260
8
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułPrototype silicon position-sensitive detector working with Bragg-Brentano powder diffractometer
    AutorzyA. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. Świentek, J. SŁOWIK, P. Wiącek
    ŹródłoActa Physica Polonica. A. — 2002 vol. 101 no. 5, s. 629–634. — tekst: http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/101/A101Z508.pdf
9
  • [referat, 2002]
  • TytułSilicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices
    AutorzyT. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA
    ŹródłoX-top 2002 : 6textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206
10
  • [referat w czasopiśmie, 2005]
  • TytułSilicon strip detector applied to X-ray diffractometer: angular resolution and counting rate
    AutorzyJacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2005 vol. 551 iss. 1, s. 73–77. — tekst: https://goo.gl/o9eAyB
11
  • [referat, 2001]
  • TytułSilicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers
    AutorzyA. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK
    ŹródłoApplied crystallography : proceedings of the XVIII conference : Wisła, Poland, 4–7 September 2000 / eds. Henryk Morawiec, Danuta Stróż. — Singapore [etc.] : World Scientific, 2001. — S. 130–133
12
  • [referat, 2000]
  • TytułSilicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers
    AutorzyA. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK
    ŹródłoXVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16
13
  • [referat, 2004]
  • TytułSome experiments with silicon strip detector
    AutorzyAndrzej ZIĘBA, Jacek SŁOWIK
    ŹródłoE-MRS 2004 fall meeting : Warsaw (Poland), 6th–10th September, 2004 : scientific programme and book of abstracts / European Materials Research Society. — [Poland : Conference Engine], [2004]. — S. 125, poster D-09