doktorant
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
128 [Hundred twenty eight]-channel silicon strip detector implemented in a powder diffractometer / A. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, J. SŁOWIK // W: EPDIC 8 : 8th [ieghth] European Powder Diffraction Conference : Uppsala, Sweden 23–26 May 2002 : collected abstracts / Uppsala Iniversitet. — [Sweden : UU], [2002]. — S. 97. — Bibliogr. s. 97
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wiesław Powroźnik, Tomasz Stobiecki, Władysław Dąbrowski, Paweł Leonard Gryboś, Andrzej Zięba, Krzysztof Świentek, Piotr Wiącek
cyfrowy identyfikator dokumentu:
128-channel silicon strip detector installed at a powder diffractometer / A. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK // Materials Science Forum ; ISSN 0255-5476. — Tytuł poprz.: Diffusion and Defect Monograph Series. — 2004 vols. 443–444, s. 175–180. — Bibliogr. s. 178–180, Abstr.. — European Powder Diffraction EPDIC 8 : Uppsala, Sweden, May 23-26, 2002 / eds. Yvonne Andersson, Eric J. Mittemeijer, Udo Welzel. — tekst: https://www-1scientific-1net-1mc29xjeh01ef.wbg2.bg.agh.edu.pl/MSF.443-444.175.pdf
keywords: multi-layer, X-ray diffraction, powder, reciprocal space, position-sensitive detector
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/MSF.443-444.175
Equatorial aberrations in a X-ray powder diffractometer with the linear position-sensitive detector / J. SŁOWIK, A. ZIĘBA // W: EPDIC 7 : 7\textsuperscript{th} European Powder Diffraction Conference : Barcelona, 20–23 May 2000. — [Barcelona : s. n.], [2000]. — S. 93
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Zięba
Geometrical equatorial aberrations in a Bragg–Brentano powder diffractometer with a linear position-sensitive detector / Jacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2001 vol. 34 iss. 4, s. 458–464. — Bibliogr. s. 464. — tekst: https://content-1ebscohost-1com-1s4pnp96i002c.wbg2.bg.agh.edu.pl/ContentServer.asp?T=P&P=AN&K=5911493&S=R&D=a9h&EbscoContent=dGJyMMvl7ESep684xNvgOLCmr1GeprFSrqe4SreWxWXS&ContentCustomer=dGJyMPGst1C2p7RIuePfgeyx44Dt6fIA
Krzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii — [Silicon strip detector of X-ray radiation and its applications in diffraction measurements] / Andrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK // W: XLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002 = 44\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18. — Bibliogr. s. 30
Kształt piku dyfrakcyjnego uzyskanego przy pomocy liniowego detektora pozycjoczułego przy skokowym i ciągłym przesuwie ramienia dyfraktometru : [abstrakt] — [The profile of the diffraction peak obtained with use of linear position-sensitive detector with discrete and continuous movement of the diffractometer arm : abstract] / Klaudiusz SŁOWIKOWSKI, Jacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA // W: XLV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 26–27 czerwca 2003 = 45\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n.], [2003]. — S. 212, P-131. — Bibliogr. s. 212
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Zięba, Klaudiusz Słowikowski
Prototype silicon position-sensitive detector working with 0-20 diffractometer / A. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, J. SŁOWIK, P. WIĄCEK // W: ECM 20 : 20\textsuperscript{th} European crystallographic meeting : Crystallography in natural sciences and technology : Kraków, August 25–31 2001 : book of abstracts / eds. K. Stadnicka, W. Nitek. — [Kraków : EJB Publisher], [2001]. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN10: 8388519166. — S. 260. — Bibliogr. s. 260
Prototype silicon position-sensitive detector working with Bragg-Brentano powder diffractometer / A. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. Świentek, J. SŁOWIK, P. Wiącek // Acta Physica Polonica. A ; ISSN 0587-4246. — 2002 vol. 101 no. 5, s. 629–634. — Bibliogr. s. 634, Abstr.. — Proceedings of the symposium on Synchrotron crystallography : Krynica–Czarny Potok, August 31–September 4, 2001 / ed. Jerzy Prochorow. — Warsaw : Polish Academy of Sciences. Institute of Physics, 2002. — tekst: http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/101/A101Z508.pdf
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wiesław Powroźnik, Tomasz Stobiecki, Władysław Dąbrowski, Paweł Leonard Gryboś, Andrzej Zięba
Silicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices / T. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA // W: X-top 2002 : 6\textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206. — Bibliogr. P126 s. 206
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Edward Kusior, Wiesław Powroźnik, Tomasz Stobiecki, Władysław Dąbrowski, Paweł Leonard Gryboś, Andrzej Zięba, Krzysztof Świentek, Piotr Wiącek
Silicon strip detector applied to X-ray diffractometer: angular resolution and counting rate / Jacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2005 vol. 551 iss. 1, s. 73–77. — Bibliogr. s. 77, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2005-08-08. — E-MRS fall meeting : symposium D : Applications of linear and area detectors for X-ray and neutron diffraction and spectroscopy : Warsaw, September 6–10, 2004 / eds. Wojciech Paszkowicz, Andrzej Zięba. — [S. l.] : Elsevier, 2005. — tekst: https://goo.gl/o9eAyB
keywords: diffraction, X-ray, maximum counting rate, linearity, angular resolution, stripdetector
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2005.07.043
Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers / A. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK // W: Applied crystallography : proceedings of the XVIII conference : Wisła, Poland, 4–7 September 2000 / eds. Henryk Morawiec, Danuta Stróż. — Singapore [etc.] : World Scientific, 2001. — ISBN10: 981-02-4613-7. — S. 130–133. — Bibliogr. s. 133
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Władysław Dąbrowski, Paweł Leonard Gryboś, Marek Idzik, Barbara Leśniewska, Andrzej Zięba, Wojciech Białas, Jerzy Kudłaty
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1142/9789812811325_0021
Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers / A. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16
Some experiments with silicon strip detector / Andrzej ZIĘBA, Jacek SŁOWIK // W: E-MRS 2004 fall meeting : Warsaw (Poland), 6th–10th September, 2004 : scientific programme and book of abstracts / European Materials Research Society. — [Poland : Conference Engine], [2004]. — ISBN10: 83-89585-03-0. — S. 125, poster D-09. — Bibliogr. s. 125