Wykaz publikacji wybranego autora

Jacek Słowik, mgr inż.

doktorant

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak




1
  • Krzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii[Silicon strip detector of X-ray radiation and its applications in diffraction measurements] / Andrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK // W: XLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002 = 44\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18. — Bibliogr. s. 30

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Kształt piku dyfrakcyjnego uzyskanego przy pomocy liniowego detektora pozycjoczułego przy skokowym i ciągłym przesuwie ramienia dyfraktometru : [abstrakt][The profile of the diffraction peak obtained with use of linear position-sensitive detector with discrete and continuous movement of the diffractometer arm : abstract] / Klaudiusz SŁOWIKOWSKI, Jacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA // W: XLV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 26–27 czerwca 2003 = 45\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n.], [2003]. — S. 212, P-131. — Bibliogr. s. 212

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Prototype silicon position-sensitive detector working with 0-20 diffractometer / A. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, J. SŁOWIK, P. WIĄCEK // W: ECM 20 : 20\textsuperscript{th} European crystallographic meeting : Crystallography in natural sciences and technology : Kraków, August 25–31 2001 : book of abstracts / eds. K. Stadnicka, W. Nitek. — [Kraków : EJB Publisher], [2001]. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN10: 8388519166. — S. 260. — Bibliogr. s. 260

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers / A. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Some experiments with silicon strip detector / Andrzej ZIĘBA, Jacek SŁOWIK // W: E-MRS 2004 fall meeting : Warsaw (Poland), 6th–10th September, 2004 : scientific programme and book of abstracts / European Materials Research Society. — [Poland : Conference Engine], [2004]. — ISBN10: 83-89585-03-0. — S. 125, poster D-09. — Bibliogr. s. 125

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: