Wykaz publikacji wybranego autora

Arkadiusz Zientara, mgr inż.

asystent

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii

Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 4, z ogólnej liczby 4 publikacji Autora

1
  • [referat, 2000]
  • TytułBadania symulacyjne wpływu tolerancji rezystorów na współczynnik CMRR w różnych strukturach wzmacniaczy pomiarowych
    AutorzyTadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — S. 228–235

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tadeusz Sidor

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2001]
  • TytułPorównawcze badania wrażliwości elektronicznych przetworników pomiarowych na tolerancje podzespołów przy wykorzystaniu analizy Monte Carlo
    AutorzyTadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA
    ŹródłoPomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR. — 2001 nr 10, s. 9–12

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tadeusz Sidor

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat w czasopiśmie, 2001]
  • TytułStandard CAN w laboratorium studenckim
    AutorzyJerzy NABIELEC, Arkadiusz ZIENTARA
    ŹródłoZeszyty Naukowe / Politechnika Łódzka ; nr 886. Seria: Elektryka. — 2001 z. 98, s. 175–182

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jerzy Nabielec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2001]
  • TytułSymulacyjne badania zależności współczynnika CMRR od częstotliwości dla różnych struktur wzmacniaczy pomiarowych
    AutorzyTadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — S. 175–180

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tadeusz Sidor

    cyfrowy identyfikator dokumentu: