Badania symulacyjne wpływu tolerancji rezystorów na współczynnik CMRR w różnych strukturach wzmacniaczy pomiarowych — Investigation of the resistors tolerance influence on the CMRR of different structures of instrumentation amplifiers / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 = Measuring systems-modelling and simulation : 10\textsuperscript{th} anniversary symposium / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — ISBN10: 83-908295-7-6. — S. 228–235. — Bibliogr. s. 235, Streszcz., Abstr.

Porównawcze badania wrażliwości elektronicznych przetworników pomiarowych na tolerancje podzespołów przy wykorzystaniu analizy Monte Carlo — Comparing electronics measuring transducers sensitivity to component tolerances using the Monte Carlo analysis / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2001 nr 10, s. 9–12. — Bibliogr. s. 12, Streszcz., Abstr.

Standard CAN w laboratorium studenckim — CAN protocol during students classes / Jerzy NABIELEC, Arkadiusz ZIENTARA // Zeszyty Naukowe / Politechnika Łódzka ; nr 886. Seria: Elektryka ; ISSN 0374-4817. — 2001 z. 98, s. 175–182. — Bibliogr. s. 182, Streszcz.. — MKM 2001 : XXXIII [trzydziesta trzecia] Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Łódź–Arturówek 2001 : materiały konferencyjne. — Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 2001

Symulacyjne badania zależności współczynnika CMRR od częstotliwości dla różnych struktur wzmacniaczy pomiarowych — Investigation of the structure influence on the CMRR value in frequency domain for different types of instrumentation amplifiers / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — ISBN10: 8390829592. — S. 175–180. — Bibliogr. s. 180, Streszcz., Abstr.