Wykaz publikacji wybranego autora

Katarzyna Tkacz-Śmiech, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5871-7720 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 6603142751

PBN: 5e70920b878c28a04738f012

OPI Nauka Polska




1
  • Budowa i właściwości termooptyczne amorficznych warstw a-C:N:H[Structure and thermooptical properties of amorphous a-C:N:H layers] / Ewa BARANIAK, Janusz Jaglarz, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // W: Dokonania naukowe doktorantów 3 [Dokument elektroniczny] : materiały konferencyjne – streszczenia : materiały Konferencji Młodych Naukowców : Kraków, 18.04.2015 r. / oprac. Marcin Kuczera, Krzysztof Piech. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : CREATIVETIME, [2015]. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-83-63058-49-4. — S. 87. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 87. — E. Baraniak, K. Tkacz-Śmiech – afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Darken interdiffusion in Onsager matrix representation / Bogusław BOŻEK, Marek DANIELEWSKI, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Marek ZAJUSZ // W: Mathematics in technical and natural sciences : 14\textsuperscript{th} conference : Kościelisko, 18\textsuperscript{th}–24\textsuperscript{th} September 2015. — [Polska : s. n.], [2015]. — S. 4

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Diffusion in multiphase systems: a comparison of mathematical models with experimental data / Marek ZAJUSZ, Bogusław BOŻEK, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Katarzyna BERENT, Marek DANIELEWSKI // W: Mathematics in technical and natural sciences : 14\textsuperscript{th} conference : Kościelisko, 18\textsuperscript{th}–24\textsuperscript{th} September 2015. — [Polska : s. n.], [2015]. — S. 35

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Modelowanie procesu azotowania[Modelling of the nitriding process] / Katarzyna KOPER, Bartłomiej WIERZBA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // W: NM-NT 2015 : Nowe Materiały – Nowe Technologie w Przemyśle Okrętowym i Maszynowym : VI krajowa konferencja : Międzyzdroje, 24–28 maja 2015 r. : program konferencji i streszczenia referatów / Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Instytut Inżynierii Materiałowej. — [Szczecin : ZUT], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 109. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • On the correlation between the chemical composition of the amorphous $a-Si_{x}C_{y}N_{z}(H)$ layers deposited by PACVD and their band gap / Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Stanisława KLUSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // W: SENM 2015 [Dokument elektroniczny] : Smart Engineering of New Materials : 22–25 June 2015 Lodz, Poland : abstract book. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Lodz : s. n.], [2015]. — Dysk Flash. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader

  • keywords: PACVD, band gap, spectroscopic ellipsometry, amorphous a-SixCyNz(H) layers, optical constants

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • On the correlation between the chemical composition of the amrophous $a-Si_{x}C_{y}N_{z}(H)$ layers deposited by PACVD and their band gap / Stanisława KLUSKA, Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // W: MicroTherm 2015 [Dokument elektroniczny] : Microtechnology and Thermal Problems in Electronics : June 23\textsuperscript{rd} – June 25\textsuperscript{th} 2015, Lodz, Poland : official proceedings / ed. Jacek Podgórski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Lodz : Lodz University of Technology, cop. 2015. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-83-932197-3-5. — S. 31–35. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 34–35, Abstr.

  • keywords: PACVD, band gap, amorphous a-SixCyNz(H) layers, optical constants, specroscopic ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Symmetrical ion channel: from NPP to Darken-Nernst-Planck-Poisson model / Bogusław BOŻEK, Marek DANIELEWSKI, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // W: Mathematics in technical and natural sciences : 14\textsuperscript{th} conference : Kościelisko, 18\textsuperscript{th}–24\textsuperscript{th} September 2015. — [Polska : s. n.], [2015]. — S. 3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Thermo-optical parameters of amorphous a-C:N:H layers / E. BARANIAK, J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, K. TKACZ-ŚMIECH // W: EYEC monograph : 4\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 27–29\textsuperscript{th} 2015, Warsaw / ed. Michał Wojasiński, Bartosz Nowak ; Scientific Club of Chemical and Process Engineering. Faculty of Chemical and Process Engineering. Warsaw University of Technology. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2015. — Na okł. dod.: 100 lecie odnowienia tradycji Politechniki Warszawskiej. — ISBN: 978-83-936575-1-3. — S. 360

  • keywords: PACVD, ellipsometry, a-C:N:H layers, thermooptical parameters

    cyfrowy identyfikator dokumentu: