Wykaz publikacji wybranego autora

Katarzyna Tkacz-Śmiech, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5871-7720 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 6603142751

PBN: 5e70920b878c28a04738f012

OPI Nauka Polska




1
  • Optical and mechanical nanostructured coatings for future large-scale manufacturing / Tomasz STAPIŃSKI, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // W: Encyclopedia of nanotechnology / ed. Bharat Bhushan. — Dordrecht ; [etc.] : Springer, cop. 2012. — ISBN: 978-90-481-9750-7. — S. 1932–1942. — Bibliogr. s. 1941–1942

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Selective electrodifussion in nanochannels, 3 / Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Bogusław BOŻEK, Marek DANIELEWSKI // W: Nanomaterials and nanotechnology / ed. Waqar Ahmed. — Manchester : One Central Press Ltd, 2016. — ISBN: 978-1-910086-16-2 ; e-ISBN: 978-1-910086-17-9. — S. 58–73. — Bibliogr. s. 72-73, Summ.. — Książka: Nanomaterials and nanotechnology dostępna pod adresem: {http://www.onecentralpress.com/nanomaterials-and-nanotechnology/} [2016-11-17]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Thermo-optical parameters of amorphous a-C:N:H layers / E. BARANIAK, J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, K. TKACZ-ŚMIECH // W: EYEC monograph : 4\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 27–29\textsuperscript{th} 2015, Warsaw / ed. Michał Wojasiński, Bartosz Nowak ; Scientific Club of Chemical and Process Engineering. Faculty of Chemical and Process Engineering. Warsaw University of Technology. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2015. — Na okł. dod.: 100 lecie odnowienia tradycji Politechniki Warszawskiej. — ISBN: 978-83-936575-1-3. — S. 360

  • keywords: PACVD, ellipsometry, a-C:N:H layers, thermooptical parameters

    cyfrowy identyfikator dokumentu: