Wykaz publikacji wybranego autora

Zbigniew Mitura, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-0194-7231 połącz konto z ORCID

ResearcherID: S-4916-2016

Scopus: 55924179900

PBN: 5e70920b878c28a04738f0e3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Wyznaczanie natężeń wiązek elektronowych dla dyfrakcji typu RHEED w ramach zaawansowanych i uproszczonych opisów teoretycznychDetermination of electron beam intensities for the case of RHEED within advanced and simplified theoretical frameworks / Zbigniew MITURA // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2019 t. 86 nr 4, s. 92–100. — Bibliogr. s. 99–100, Streszcz., Abstr.

  • słowa kluczowe: cienkie warstwy, dyfrakcja elektronów, nanostruktury

    keywords: thin films, electron diffraction, nano structures

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.15199/24.2019.4.2