Wykaz publikacji wybranego autora

Zbigniew Mitura, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-0194-7231 połącz konto z ORCID

ResearcherID: S-4916-2016

Scopus: 55924179900

PBN: 5e70920b878c28a04738f0e3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Algorithms for determining the phase of RHEED oscillations / Zbigniew MITURA, Sergei L. Dudarev // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2015 vol. 48 iss. 6, s. 1927–1934. — Bibliogr. s. 1934. — Publikacja dostępna online od: 2015-11-28. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1107/S1600576715020415/pdf

  • keywords: RHEED oscillations, reflection high energy electron diffraction, RHEED, direct modelling, Fourier deconvolution

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576715020415

2
  • Theoretical analysis of reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection high-energy positron diffraction (RHEPD) intensity oscillations expected for the perfect layer-by-layer growth / Zbigniew MITURA // Acta Crystallographica. Section A, Foundations and Advances [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2053-2733. — 2015 vol. 71 iss. 5, s. 513–518. — Bibliogr. s. 517–518. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1107/S2053273315010608/epdf

  • keywords: dynamical diffraction theory, nano layers, RHEED, RHEPD

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S2053273315010608