Wykaz publikacji wybranego autora

Zbigniew Mitura, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-0194-7231 połącz konto z ORCID

ResearcherID: S-4916-2016

Scopus: 55924179900

PBN: 5e70920b878c28a04738f0e3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Algorithms for determining the phase of RHEED oscillations / Zbigniew MITURA, Sergei L. Dudarev // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2015 vol. 48 iss. 6, s. 1927–1934. — Bibliogr. s. 1934. — Publikacja dostępna online od: 2015-11-28. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1107/S1600576715020415/pdf

  • keywords: RHEED oscillations, reflection high energy electron diffraction, RHEED, direct modelling, Fourier deconvolution

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576715020415

2

  • An analysis of Kikuchi lines observed with a RHEED apparatus for a $TiO_{2}$-terminated $SrTiO_{3}$ (001) crystal / Jakub PAWLAK, Marek PRZYBYLSKI, Zbigniew MITURA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2021 vol. 14 iss. 22 art. no. 7077, s. 1–14. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 13–14, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-11-22. — J. Pawlak, M. Przybylski – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/14/22/7077/pdf

  • keywords: interfaces, nano structured materials, RHEED, SrTiO3, Kikuchi patterns, perovskities, inelastic scattering

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Przybylski, Jakub Pawlak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma14227077

3

  • Analysis of rheological properties of steel near solidus point using Gleeble® simulator / Krzysztof P. SOŁEK, Zbigniew MITURA, Mirosław KARBOWNICZEK, Plato Kapranos, Roman Kuziak, Jan Dutkiewicz // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2008 vols. 141–143, s. 325–330. — Bibliogr. s. 330, Abstr.. — S2P 2008 : semi-solid processing of alloys and composites X : selected, peer reviewed papers from the 10th international conference : September 16th–18th, 2008, Aachen, Germany and Liége, Belgium / eds. G. Hirt, A. Rassili, A. Bührig-Polaczek. — Switzerland ; UK ; USA : ttp Trans Tech Publications Ltd, cop. 2008. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.141-143.225.pdf

  • keywords: AG40A, localized stirring, semisolid holding, semisolid joining, Zamak-3

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mirosław Karbowniczek, Krzysztof Sołek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.141-143.225

4
5
6
7

  • Computations of RHEED intensities for growing surfaces of GaAs — Obliczenia natężeń wiązki elektronów odbitych zwierciadlanie od wzrastających powierzchni, dla arsenku galu / Zbigniew MITURA // Computer Methods in Materials Science : quarterly / Akademia Górniczo-Hutnicza ; ISSN 2720-4081. — Tytuł poprz.: Informatyka w Technologii Materiałów ; ISSN: 1641-3948. — 2015 vol. 15 no. 4, s. 447–458. — Bibliogr. s. 457–458, Abstr., Streszcz.

  • keywords: dynamical diffraction theory, nano layers, RHEED intensity oscillations

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8

  • Computer investigations of features of RHEED oscillations for $GaAs$ and for $Ge$ / MITURA Zbigniew // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2013 vols. 203–204, s. 347–350. — Bibliogr. s. 350, Abstr.. — XXII CAC 2012 : Conference of Applied Crystallography : 02–06 September 2012, Targanice, Poland : selected, peer reviewed papers / eds. Danuta Stróż, Grzegorz Dercz. — Switzerland : Trans Tech Publications, cop. 2013. — ISBN 978-3-03785-754-0. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.203-204.347

  • keywords: electron diffraction, surface crystallography, RHEED oscillations, dynamical diffraction theory

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4228/www.scientific.net/SSP.203-204.347

9
10

  • Discussion of the importance of the refraction effects for RHEED / Zbigniew MITURA, Michał M. Szczypiński, Stanisław Mitura // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 421, s. 247-251. — Bibliogr. s. 250–251, Abstr.

  • keywords: nano layers, RHEED intensity oscillations, electron diffraction theory

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2016.11.126

11
12
13

  • Simplified determination of RHEED patterns and its explanation shown with the use of 3D computer graphics / Łukasz KOKOSZA, Jakub PAWLAK, Zbigniew MITURA, Marek PRZYBYLSKI // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2021 vol. 14 iss. 11 art. no. 3056, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 10–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-06-03. — J. Pawlak, M. Przybylski – dod. afiliacja: ACMiN AGH. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/14/11/3056/pdf

  • keywords: nano structured materials, computer visualization, kinematical diffraction theory, Ewald construction

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Przybylski, Jakub Pawlak, Łukasz Kokosza

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma14113056

14

  • Theoretical analysis of reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection high-energy positron diffraction (RHEPD) intensity oscillations expected for the perfect layer-by-layer growth / Zbigniew MITURA // Acta Crystallographica. Section A, Foundations and Advances [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2053-2733. — 2015 vol. 71 iss. 5, s. 513–518. — Bibliogr. s. 517–518. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1107/S2053273315010608/epdf

  • keywords: dynamical diffraction theory, nano layers, RHEED, RHEPD

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S2053273315010608

15

  • Wyznaczanie natężeń wiązek elektronowych dla dyfrakcji typu RHEED w ramach zaawansowanych i uproszczonych opisów teoretycznych — Determination of electron beam intensities for the case of RHEED within advanced and simplified theoretical frameworks / Zbigniew MITURA // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2019 t. 86 nr 4, s. 92–100. — Bibliogr. s. 99–100, Streszcz., Abstr.

  • słowa kluczowe: cienkie warstwy, dyfrakcja elektronów, nanostruktury

    keywords: thin films, electron diffraction, nano structures

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.15199/24.2019.4.2