Wykaz publikacji wybranego autora

Zbigniew Mitura, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-0194-7231 połącz konto z ORCID

ResearcherID: S-4916-2016

Scopus: 55924179900

PBN: 5e70920b878c28a04738f0e3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Algorithms for determining the phase of RHEED oscillations / Zbigniew MITURA, Sergei L. Dudarev // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2015 vol. 48 iss. 6, s. 1927–1934. — Bibliogr. s. 1934. — Publikacja dostępna online od: 2015-11-28. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1107/S1600576715020415/pdf

  • keywords: RHEED oscillations, reflection high energy electron diffraction, RHEED, direct modelling, Fourier deconvolution

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576715020415

2

  • An analysis of Kikuchi lines observed with a RHEED apparatus for a $TiO_{2}$-terminated $SrTiO_{3}$ (001) crystal / Jakub PAWLAK, Marek PRZYBYLSKI, Zbigniew MITURA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2021 vol. 14 iss. 22 art. no. 7077, s. 1–14. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 13–14, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-11-22. — J. Pawlak, M. Przybylski – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/14/22/7077/pdf

  • keywords: interfaces, nano structured materials, RHEED, SrTiO3, Kikuchi patterns, perovskities, inelastic scattering

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Przybylski, Jakub Pawlak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma14227077

3
4
5
6

  • Computer simulation of reflection high energy electron diffraction from ultrathin iron layers — Komputerowa symulacja odbiciowej dyfrakcji wysokoenergetycznych elektronów dla przypadku ultracienkich warstw żelaza / Zbigniew MITURA, M. J. Whelan // Archives of Metallurgy / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy ; ISSN 0860-7052. — 2000 vol. 45 iss. 4, s. 371–379. — Bibliogr. s. 378–379, Abstr., Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8

  • Discussion of the importance of the refraction effects for RHEED / Zbigniew MITURA, Michał M. Szczypiński, Stanisław Mitura // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 421, s. 247-251. — Bibliogr. s. 250–251, Abstr.

  • keywords: nano layers, RHEED intensity oscillations, electron diffraction theory

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2016.11.126

9

  • Investigation of $Si-Au$ vicinal surfaces using scanning tunnelling microscopy and reflection high-energy electron diffraction / P. Mazurek, K. Paprocki, Z. MITURA // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2006 vol. 224 Pt. 1, s. 125–127. — Bibliogr. s. 127, Summ.. — Publikacja dostępna online od: 2006-11-08. — tekst: https://goo.gl/VxSrqV

  • keywords: nano wires, surface crystallography, vicinal surfaces, scanning tunneling microscopy, reflection high energy electron diffraction

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1111/j.1365-2818.2006.01686.x

10
11
12

  • Simplified determination of RHEED patterns and its explanation shown with the use of 3D computer graphics / Łukasz KOKOSZA, Jakub PAWLAK, Zbigniew MITURA, Marek PRZYBYLSKI // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2021 vol. 14 iss. 11 art. no. 3056, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 10–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-06-03. — J. Pawlak, M. Przybylski – dod. afiliacja: ACMiN AGH. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/14/11/3056/pdf

  • keywords: nano structured materials, computer visualization, kinematical diffraction theory, Ewald construction

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Przybylski, Jakub Pawlak, Łukasz Kokosza

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma14113056

13

  • Studies on the origin of reflection high energy electron diffraction oscillations observed during molecular beam epitaxy / Zbigniew MITURA // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2002 vol. 32 no. 3, s. 253–258. — Bibliogr. s. 258

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
15

  • Theoretical analysis of reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection high-energy positron diffraction (RHEPD) intensity oscillations expected for the perfect layer-by-layer growth / Zbigniew MITURA // Acta Crystallographica. Section A, Foundations and Advances [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2053-2733. — 2015 vol. 71 iss. 5, s. 513–518. — Bibliogr. s. 517–518. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1107/S2053273315010608/epdf

  • keywords: dynamical diffraction theory, nano layers, RHEED, RHEPD

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S2053273315010608