Characterisation and analysis of the nickel base alloy IN 706 by metallography and EFTEM / J. WOSIK, H. J. Penkalla, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, F. Schubert // W: EM'99 : proceedings of X Conference on Electron Microscopy of Solids : Warsaw–Serock, Poland September 20–23, 1999 / ed. E. Jezierska, J. A. Kozubowski. — Kraków : FOTOBIT, [1999]. — ISBN10: 83-907892-4-8. — S. 207–210. — Bibliogr. s. 210