Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Mietniowski, dr inż.

asystent

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: C-9713-2011

Scopus: brak

OPI Nauka Polska

1

  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayers — Zastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wiesław Powroźnik, Tomasz Stobiecki, Paweł Leonard Gryboś, Jarosław Kanak, Piotr Maj

    cyfrowy identyfikator dokumentu: