Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Mietniowski, dr inż.

asystent

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: C-9713-2011

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Application of Grazing Incidence X-Ray Analysis (GIXA) for multilayer systems / Piotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk // W: ELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — ISBN10: 83-88309-46-3. — S. 74

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayer systems / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // W: SOTAMA 2007 : 2\textsuperscript{nd} symposium on Texture and microstructure analysis : Kraków, 26–28 September, 2007 : book of abstracts ; lectures and posters. — [Kraków : s. n.], [2007]. — S. 18–19

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Przykłady wykorzystania pozycjo-czułego krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych układów wielowarstwowych[Examples of application position-sensitive silicon strip detector for diffraction on multilayers] / Piotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Tomasz STOBIECKI // W: I Krajowa konferencja nanotechnologii : 26–28 kwietnia 2007 Wrocław : książka streszczeń / Politechnika Wrocławska. — [Wrocław : PWr], [2007]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 102

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: