Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Mietniowski, dr inż.

asystent

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: C-9713-2011

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayersZastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • Quasicritical behaviour of the NMR and $\mu$SR relaxation in $YMn_{2}D_{x}$ / A. PAJA, P. MIETNIOWSKI, H. FIGIEL // Acta Physica Polonica. A ; ISSN 0587-4246. — 2000 vol. 97 no. 5, s. 867–870. — Bibliogr. s. 870. — Proceedings of the European Conference “Physics of Magnetism'99” : Poznań, June 21–25, 1999. Pt. 3 / ed. R. Micnas [et al.]. — Warszawa : Instytut Fizyki PAN, 2000. — tekst: http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/97/a097z5p34.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.12693/APhysPolA.97.867

5