Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012 orcid iD

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułA microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-delta}/Si$ thin films
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160
  • keywords: thin films, gas sensors, XPS analysis, SIMS, CuOx-CeO2

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułElectron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-delta}/Si$ thin films
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux
    ŹródłoSurface Science. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M
  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułStructure, microstructure, and size dependent catalytic properties of nanostructured ruthenium dioxide
    AutorzyPaweł Nowakowski, Jean-Pierre Dallas, Sylvie Villain, Agnieszka KOPIA, Jean-Raymond Gavarri
    ŹródłoJournal of Solid State Chemistry. — 2008 vol. 181 iss. 5, s. 1005–1016. — tekst: http://goo.gl/UAg2Om
  • keywords: electron microscopy, nano powders, sol-gel process, infrared spectroscopy, ruthenium dioxide, X-ray diffraction analysis, rietveld structure analysis, catalytic properties

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.jssc.2008.01.047