Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012 orcid iD

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat w czasopiśmie, 2005]
  • TytułAnaliza własności katalitycznych i elektrycznych cienkich warstw $CeO_{2}$ domieszkowanych Nd wytworzonych techniką ablacji laserowej
    AutorzyAgnieszka KOPIA, Magdalena CHMIELOWSKA, Sylvie Villain, Jan KUSIŃSKI, Jean Raymond Gavarri
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2005 R. 26 nr 5, s. 330–331
2
  • [referat, 2005]
  • TytułCharacterization of oxide thin films deposited on $Si$ substrates by means of laser ablation
    AutorzyJ. KUSIŃSKI, A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, S. KĄC, J. R. Gavarri [et al.]
    ŹródłoReactivity of solids : proceedings of the 14textsuperscript{th} French-Polish seminar : Kraków 2005 / pod red. K. Przybylskiego ; PAN. Oddział w Krakowie, PTC. — Kraków : PTC, 2005. — S. 235–243
3
  • [referat, 2005]
  • TytułStructural analyses of $Nd_{2}O_{3}$ doped $CeO_{2}$ thin films deposited by means of laser ablation
    AutorzyA. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux, J. KUSIŃSKI, J. R. Gavarri
    ŹródłoEM'2005 : XII international conference on Electron Microscopy of Solids : Kazimierz Dolny, Poland, 5–9 June 2005 : abstracts. — Warszawa : BEL Studio Sp. z o. o., 2005. — S. 91