Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012 orcid iD

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułA microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-delta}/Si$ thin films
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160

  • keywords: thin films, gas sensors, XPS analysis, SIMS, CuOx-CeO2

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kazimierz Kowalski, Magdalena Chmielowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2018]
  • TytułCharacterisation of oxide coatings produced on aluminum alloys by MAO and chemical methods
    AutorzyM. JĘDRUSIK, A. DĘBOWSKA, A. KOPIA
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2018 vol. 63 iss. 1, s. 125–128. — tekst: http://www.imim.pl/files/archiwum/Vol1_2018/18.pdf

  • keywords: aluminium alloys, corrosion resistance, Al2O3, MAO, chemical method

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Błoniarz, Mateusz Jędrusik

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.24425/118918

5
6
7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2020]
  • TytułCorrosion resistance of Inconel 625 CMT-cladded layers after long-term exposure to biomass and waste ashes in high-temperature conversion processes
    AutorzyAleksandra BŁONIARZ, Marcus Schreiner, Markus Reinmöller, Agnieszka KOPIA
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 13 iss. 19 art. no. 4374, s. 1–10. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/19/4374/pdf

  • keywords: biomass, ash, high temperature corrosion, waste, CMT, Inconel 625 coated boiler steel, thermochemical conversion processes, Cold Metal Transfer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Błoniarz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13194374

8
9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułDeposition of oxide and intermetallic thin films by pulsed laser (PLD) and electron beam (PED) methods
    AutorzyJ. KUSIŃSKI, A. KOPIA, Ł. CIENIEK, S. KĄC, A. RADZISZEWSKA
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2015 vol. 60 iss. 3, s. 2173–2182

  • keywords: PLD, thin films, structure, PED, doped oxides

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Kusiński, Sławomir Kąc, Agnieszka Radziszewska, Łukasz Cieniek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1515/amm-2015-0363

10
11
12
13
14
15
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułElectron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-delta}/Si$ thin films
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux
    ŹródłoSurface Science. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kazimierz Kowalski, Magdalena Chmielowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
  • [artykuł w czasopiśmie, 2016]
  • TytułInfluence of the substrate on the structure stability $LaLuO_{3}$ thin films deposited by PLD method
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, J. R. Gavarri
    ŹródłoVacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology. — 2016 vol. 134, s. 120–129. — tekst: https://goo.gl/y1zWU9

  • keywords: PLD, XPS, thin films LaLuO3

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kazimierz Kowalski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2016.10.005