Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012 orcid iD

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Influence of Sr-doping on the structure of $LaCoO_{3}$ thin films prepared by Pulsed Laser Deposition / KOPIA Agnieszka, CIENIEK Łukasz, KOWALSKI Kazimierz, KUSIŃSKI Jan // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2015 vol. 231, s. 19–24. — Bibliogr. s. 24, Abstr.. — XV international conference on Electron Microscopy EM2014 : 15–18 September 2014, Kraków, Poland

  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, perovskite LaCoO3

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Kusiński, Kazimierz Kowalski, Łukasz Cieniek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP/231/19

2

  • Structural characterization of Sr doped $LaFeO_{3}$ thin films prepared by pulsed electron deposition method / Anna CYZA, Agnieszka KOPIA, Łukasz CIENIEK, Jan KUSIŃSKI // W: ANM 2015 [Dokument elektroniczny] : 6\textsuperscript{th} international conference on Advanced Nanomaterials : 20–22 July 2015, Aveiro, Portugal : ANM abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Portugal : s. n.], [2015]. — S. 81. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.anm2015.com/wp-content/uploads/2015/07/ANM2015-Abstract-Book-final-1.pdf [2015-09-14]. — Bibliogr. s. 81

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Kusiński, Łukasz Cieniek, Anna Cyza

    cyfrowy identyfikator dokumentu: