Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, dr hab. inż.

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 901327

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • AFM and SEM investigation of $RuO_{2}$ thin films deposited by pulsed laser deposition / A. KOPIA, M. Kąc // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 85. — Bibliogr. s. 85

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • A microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin filmsMikroskopowe i spektroskopowe badania cienkich warstw $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ / A. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160. — Bibliogr. 160. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: thin films, gas sensors, XPS analysis, SIMS, CuOx-CeO2

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
5
  • Electron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films / A. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — Bibliogr. s. 1320–1321, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-11. — M. Chmielowska - pierwsza afiliacja: Université du Sud Toulon-Var, France. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

6
  • ${RuO_{2}}$ thin films deposited by spin coating and sputtering process on ${Si}$ substrates: catalytic and electrical properties / P. NOWAKOWSKI, A. KOPIA, A. Villain, J. KUSIŃSKI, K. Aguir, J.-R. Gavarri // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 121

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Structure, microstructure, and size dependent catalytic properties of nanostructured ruthenium dioxide / Paweł Nowakowski, Jean-Pierre Dallas, Sylvie Villain, Agnieszka KOPIA, Jean-Raymond Gavarri // Journal of Solid State Chemistry ; ISSN 0022-4596. — 2008 vol. 181 iss. 5, s. 1005–1016. — Bibliogr. s. 1016, Abstr.. — tekst: http://goo.gl/UAg2Om

  • keywords: electron microscopy, nanopowders, infrared spectroscopy, ruthenium dioxide, X-ray diffraction analysis, sol gel process, rietveld structure analysis, catalytic properties

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.jssc.2008.01.047