Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, dr hab. inż.

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 901327

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
2
3
  • Electron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films / A. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — Bibliogr. s. 1320–1321, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-11. — M. Chmielowska - pierwsza afiliacja: Université du Sud Toulon-Var, France. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

4
  • Structure, microstructure, and size dependent catalytic properties of nanostructured ruthenium dioxide / Paweł Nowakowski, Jean-Pierre Dallas, Sylvie Villain, Agnieszka KOPIA, Jean-Raymond Gavarri // Journal of Solid State Chemistry ; ISSN 0022-4596. — 2008 vol. 181 iss. 5, s. 1005–1016. — Bibliogr. s. 1016, Abstr.. — tekst: http://goo.gl/UAg2Om

  • keywords: electron microscopy, nanopowders, infrared spectroscopy, ruthenium dioxide, X-ray diffraction analysis, sol gel process, rietveld structure analysis, catalytic properties

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.jssc.2008.01.047