Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, dr hab. inż.

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 901327

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • Cienkie warstwy tlenków metali wytwarzane techniką ablacji laserowej – struktura i własnościOxide thin films deposited by means of laser ablation – structure and properties / Jan KUSIŃSKI, Agnieszka KOPIA, Magdalena CHMIELOWSKA, Sławomir KĄC, Jan Marczak, Józef Firak // W: STL 8 : Sympozjum Techniki Laserowej : Szczecin–Świnoujście 2006 : referaty / Komitet Elektroniki i Telekomunikacji PAN [etc.]. — Szczecin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2006. — S. 179–191. — Bibliogr. s. 190–191, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Porównanie metod wyznaczania wielkości krystalitów nanomateriałów do zastosowań katalitycznychComparison of the calculated methods the crystalline size of nanomaterials for catalytic application / Agnieszka KOPIA, Ireneusz SULIGA, Paweł Nowakowski // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2006 R. 27 nr 5, s. 1077–1080. — Bibliogr. s. 1080, Streszcz., Abstr.. — Opis częśc. wg okł.. — „Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni” : III ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź – Spała, 3–6 października 2006 : III krajowa konferencja = III domestic conference / pod red. Zbigniewa Gawrońskiego ; Politechnika Łódzka, Instytut Inżynierii Materiałowej PŁ, Polskie Towarzystwo Materiałoznawcze. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA NOT Spółka z o. o. — Protektorat konferencji J. M. Rektor PŁ Prof. dr hab. inż. Jan Krysiński

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Porównanie własności katalitycznych nanokrystalicznych tlenków ceru $CeO_{2}$ i rutenu $RuO_{2}$Comparison of the catalytic properties the nanocrystalline oxides $CeO_{2}$ and $RuO_{2}$ / Agnieszka KOPIA, Paweł Nowakowski, Ireneusz SULIGA, Sylvie Villain, Jean Raymond Gavarri // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2006 R. 27 nr 5, s. 1069–1072. — Bibliogr. s. 1072, Streszcz., Abstr.. — Opis częśc. wg okł.. — „Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni” : III ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź – Spała, 3–6 października 2006 : III krajowa konferencja = III domestic conference / pod red. Zbigniewa Gawrońskiego ; Politechnika Łódzka, Instytut Inżynierii Materiałowej PŁ, Polskie Towarzystwo Materiałoznawcze. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA NOT Spółka z o. o. — Protektorat konferencji J. M. Rektor PŁ Prof. dr hab. inż. Jan Krysiński

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Wpływ domieszkowania na własności katalityczne cienkich warstw $RuO_{2}-CeO_{2}$ wytworzonych techniką ablacji laserowejInfluence of doped $RuO_{2}$ on catalytic properties of thin films cerium dioxides produced by pulsed laser deposition / Agnieszka KOPIA, Ireneusz SULIGA, Jan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2006 R. 27 nr 5, s. 1073–1076. — Bibliogr. s. 1076, Streszcz., Abstr.. — Opis częśc. wg okł.. — Protektorat konferencji J. M. Rektor PŁ Prof. dr hab. inż. Jan Krysiński. — „Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni” : III ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź – Spała, 3–6 października 2006 : III krajowa konferencja = III domestic conference / pod red. Zbigniewa Gawrońskiego ; Politechnika Łódzka, Instytut Inżynierii Materiałowej PŁ, Polskie Towarzystwo Materiałoznawcze. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA NOT Spółka z o. o.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: