Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Kopia, dr hab. inż.

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5791-4012

ResearcherID: B-5628-2011

Scopus: 23477838300

PBN: 901327

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • Texture modifications in copper doped ceria thin films by pulsed laser deposition techniqueZmiany tekstury cienkich warstw $CeO_{2}$ domieszkowanych miedzią wytworzonych techniką ablacji laserowej / Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Jan KUSIŃSKI, Christine Leroux, Jean Raymond Gavarri // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2004 R. 25 nr 3, s. 561–563. — Bibliogr. s. 563, Abstr., Streszcz.. — AMT'2004 : Advanced Materials & Technologies : XVII physical metallurgy and materials science conference : 20th–24th June 2004, Łódź, Poland

  • słowa kluczowe: miedź, tekstura, ablacja laserowa, warstwa cienka

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Wybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałówSelected research methods of structure and properties of thin films and material surfaces / Jan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Radosław CHMIELOWSKI // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2004 R. 71 nr 3, s. 120–128. — Bibliogr. s. 128

  • słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja

    keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu

    cyfrowy identyfikator dokumentu: