Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Białas, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
3
  • [referat, 2000]
  • TytułDevelopment of a fast readout system for the detection of low energy X rays
    AutorzyP. GRYBOŚ, W. BIAŁAS, A. Cabal, W. DĄBROWSKI, P. Giubellino, M. IDZIK, R. Wheadon, L. Montaño, R. Szczygiel
    ŹródłoMedical physics : fourth Mexican symposium : [Merida, Yucatan, Mexico, 1–4 March 2000] / eds. J. J. Alvarado-Gil, J. G Contreras, G. Herrera Corral. — [Mellville] : American Istitute of Physics, cop. 2000. — S. 21–31
4
  • [referat, 2000]
  • TytułDevelopment of a readout system for position sensitive measurements of X-ray using silicon strip detectors
    AutorzyP. GRYBOŚ, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, M. IDZIK
    ŹródłoEDXRS-2000 : European conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry : Kraków, Poland June 18–23, 2000 : abstracts / University of Mining and Metallurgy. Faculty of Physics and Nuclear Techniques ; National Atomic Energy Agency. — [Kraków : UMM], [2000]. — S. 33
5
  • [referat, 2000]
  • TytułSilicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers
    AutorzyA. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK
    ŹródłoXVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16