Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Białas, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • ASIC wafer test system for the ATLAS Semiconductor Tracker front-end chip
2
  • Development of a readout system for position sensitive measurements of X-ray using silicon strip detectors
3
  • RX32 – a binary readout chip for x-ray imaging applications using silicon strip detectors
4
  • Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers