Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Białas, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
  • ASIC wafer test system for the ATLAS Semiconductor Tracker front-end chip
3
4
5
6
  • Development of a fast readout system for the detection of low energy X rays
7
  • Development of a readout system for position sensitive measurements of X-ray using silicon strip detectors
8
9
  • PACE3
10
  • RX32 – a binary readout chip for x-ray imaging applications using silicon strip detectors
11
  • Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers
12
  • Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers
13
  • The ATLAS experiment at the CERN Large Hadron Collider