Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Białas, dr inż.

adiunkt

Faculty of Physics and Applied Computer Science
WFiIS-kod


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Development of a readout system for position sensitive measurements of X-ray using silicon strip detectors / P. GRYBOŚ, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, M. IDZIK // W: EDXRS-2000 : European conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry : Kraków, Poland June 18–23, 2000 : abstracts / University of Mining and Metallurgy. Faculty of Physics and Nuclear Techniques ; National Atomic Energy Agency. — [Kraków : UMM], [2000]. — S. 33

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers / A. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: