Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Białas, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • ASIC wafer test system for the ATLAS Semiconductor Tracker front-end chip / F. Anghinolfi, W. BIAŁAS, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2002 vol. 49 no. 3 pt. 2 art. no. PII S0018-9499(20)06127-0, s. 1080–1085. — Bibliogr. s. 1085, Abstr.. — IEEE Nuclear Science Symposium : San Diego, California, November 04-10, 2001. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047fr020a.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=1039618

  • keywords: particle tracking, silicon radiation detectors, field programmable gate arrays (FPGAs), integrated circuit testing, LHC experiments, measurement system data handling

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TNS.2002.1039618

2
3
  • Development of a readout system for position sensitive measurements of X-ray using silicon strip detectors / P. GRYBOŚ, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, M. IDZIK // W: EDXRS-2000 : European conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry : Kraków, Poland June 18–23, 2000 : abstracts / University of Mining and Metallurgy. Faculty of Physics and Nuclear Techniques ; National Atomic Energy Agency. — [Kraków : UMM], [2000]. — S. 33

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • RX32 – a binary readout chip for x-ray imaging applications using silicon strip detectors / P. GRYBOŚ, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, M. IDZIK, J. KUDŁATY // W: MIXDES'99 : Mixed Design of integrated circuits and systems : Kraków 17–19 June 1999 : proceedings of the 6\textsuperscript{th} [sixth] International Conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland] : [s. n.], 1999. — S. 507–512. — Bibliogr. s. 512, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
  • Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers / A. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: