Wykaz publikacji wybranego autora

Agnieszka Radziszewska, dr hab. inż., prof. AGH

poprzednio: Woldan

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-4000-3746 orcid iD

ResearcherID: B-6490-2012

Scopus: 16317088000

PBN: 5e70920b878c28a04738f0f3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Characterisation of microstructure and properties of plain carbon steel laser alloyed with tantalum / Agnieszka RADZISZEWSKA // W: Metal Forming 2012 : proceedings of the 14th international conference on Metal Forming : September 16–19, 2012, Krakow, Poland / eds. Jan Kusiak, Janusz Majta, Danuta Szeliga. — Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, cop. 2012. — (Steel Research International ; spec. ed.). — ISBN: 978-3-514-00797-0. — S. 1203–1206. — Bibliogr. s. 1206, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Charakterystyka mikrostruktury cienkich warstw $Al-Mg$ osadzanych laserem impulsowym z fazy gazowejMicrostructure and properties characterization of $Al-Mg$ thin films deposited using pulsed laser deposition technique / Agnieszka RADZISZEWSKA, Tomasz MOSKALEWICZ // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2012 R. 79 nr 4, s. 254–259. — Bibliogr. s. 258–259

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Structure and morphology of thin films deposited by pulsed laser deposition technique / Agnieszka RADZISZEWSKA // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 160–163. — Bibliogr. s. 163, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.160.pdf

  • keywords: microstructure, chemical composition, thin films, SEM, TEM, Ni, Al-Mg

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.160