Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Zieliński, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-kt, Instytut Telekomunikacji


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / informatyka techniczna i telekomunikacja


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / telekomunikacja


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-5078-522X orcid iD

ResearcherID: C-3438-2011

Scopus: 7101618013

PBN: 5e70922c878c28a047391235

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Algorytm detekcji linii Kikuchiego w mikroskopii elektronowej[Algorithm for Kikuchi lines detection in electron microscopy] / Rafał FRĄCZEK, Tomasz ZIELIŃSKI // W: KM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9.09.2004 : materiały kongresowe, T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. — [Polska : s. n.], [2004]. — S. 699–702. — Bibliogr. s. 702, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Praktyczne aspekty nowego algorytmu detekcji linii KikuchiegoNew algorithm for Kikuchi lines detection / Rafał FRĄCZEK, Tomasz ZIELIŃSKI // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum zorganizowane w ramach obchodów 85-lecia Akademii Górniczo-Hutniczej im. St. Staszica w Krakowie. — ISBN10: 8391862445. — S. 147–156. — Bibliogr. s. 156, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Zastosowanie sygnału analitycznego napięcia sieci energetycznej do oceny jakości energii elektrycznej[Application of analytic signal of power system voltage for power quality valuation] / Andrzej BIEŃ, Krzysztof DUDA, Andrzej Kapusta, Michał SZYPER, Andrzej WETULA, Tomasz ZIELIŃSKI // W: KM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9.09.2004 : materiały kongresowe, T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. — [Polska : s. n.], [2004]. — S. 557–559. — Bibliogr. s. 559, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: